2025年11月，通感融合光子技术教育部重点实验室获批国家重大科研仪器研制项目（自由申请类）——“光子芯片矢量参数分布式测试仪”。这是实验室在通感融合光子技术领域的又一重要突破，标志着我国在光电集成芯片测试仪器自主研发方面迈出关键一步。

随着信息技术向智能时代跨越，大规模混合集成光子芯片已成为未来通信、计算、传感等领域的核心载体。然而，光电芯片内部幅频、相频及偏振等矢量参数的精确测试仍面临严峻挑战，光谱域、空间域联合分布特性的精密测量与解耦尚属空白，严重制约了高性能光电融合芯片的研发与产业化进程。

为此，由MK平台牵头，联合北京理工大学、北京航天测试计量技术研究所等国内优势单位，在重点实验室主任秦玉文教授的带领下，聚焦测量原理验证、关键技术突破和仪器系统研制，研制宽光谱、大带宽、高分辨的矢量参数分布式测试仪；并针对高速光通信、大规模光计算等典型芯片开展测试应用验证，“以点破面”推进技术突破。项目旨在为我国高性能光芯片研发提供先进测试工具，推动高端科学仪器自主化，用自主研发的仪器设备解决重大问题，提升我国在光子芯片测试领域的国际竞争力。